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商品説明
二次イオン質量分析法の基礎と応用に関する専門書。- タイトル: 表面分析：SIMS- 著者: D. ブリッグス, M.P. シーア- 定価: 8500円- 出版社: アグネス承風社ご覧いただきありがとうございます。透明のブックカバーを付けて使用しておりました。そのまま付けて発送予定です。20年以上前に発行された本かつ、古本にご理解のほどお願いします。中身は美品だと思います。。駿台Z会高１アドバンスト模試 英語/数学/国語 (解答解説付)２０２５年１月施行。鉄緑会 高校教材。2026年1月 中3 第3回 学力推移調査 ベネッセ。【代ゼミ】『富田一彦の英文読解 論理と解法 演習講座プリント』駿台河合塾東進。不正咬合の原因と治療 新品の本を裁断済み。La nouvelle cuisine française 現代フランス料理教本お店の情報
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